原子吸收分光光度计— —物理干扰及背景吸收干扰

一、物理干扰

   物理干扰是指溶质和溶剂的物理特性发生变化引起吸光度下降的效应，主要指由于液的黏度、表面张力、密度等的差异引起的雾化效率、溶剂和溶质的蒸发速率等变化而造成的干扰。含有大量的基体元素及其他盐类或酸类也影响到溶液的物理性质（产生基体效应也会产生干扰。物理干扰是非选择性干扰。

消除物理干扰的方法有：

①避免使用黏度大的酸作为介质，降低试液黏度；

②加入一些有机溶剂；

③配制与被测试样组成相似的标准溶液；

④当样品溶液浓度较高时，可稀释试液。

无火焰原子吸收中的物理干扰包括：

①进样进样体积的大小、位置和几何形状都会产生影响；

②记忆效应，待测元素残留在原子化器中造成的积累干扰称为记忆效应；

③石量管表面状态改变，在使用过程中使其表面变得疏松多孔导致样品流失和渗透，使扩散损失增大；

④冷凝作用，石墨管中央温度高而两端低，当原子化蒸气从高温区向低温区迁移时可能发生原子蒸气的冷凝。

     在无火焰原子吸收中消除物理干扰的方法有：采用自动进样器以保证进样条件一致；为减少记忆效应而提高原子化温度和延长原子化时间在一次测量之后用空烧或增加一步高温清洗；采用涂层石墨管；为减小石墨炉产生的误差要经常校正，发现不适于定量时及时更换石墨管；为避免冷凝作用在紧贴原子化器的有限范围内测定，或采用氩氧混合气作为载气。

二、背景吸收干扰

    背景是一种非原子吸收现象，多数人认为主要来自：

（1）光散射（微固体颗粒引起）火焰中的气溶胶固体微粒存在，会使入射光发生散射，产生高于真实值的假吸收，使结果偏高。

（2）分子吸收分子吸收是指在原子化过程中生成的气体分子、氧化物及盐类分子对辐第三射吸收而引起的干扰，包括火焰的成分，如OH、CH、NH、CO等分子基因吸收光源辐射；低温火焰中常存在碱金属和碱土金属的卤化物的吸收，如NaCl、KCl、CaCl2等双原子分子在波长小于300mm的紫外区有吸收带；在高温火焰中碱土金属的氧化物或氢氧化物也会吸收辐射，如Ca(OH)2的吸收带干扰钡553.56nm的吸收峰。

    光散射是指在原子化过程中产生的固体微粒对光产生散射，使被散射的光偏离光路不为检测器所检测，导致吸光度值偏高。

    背景吸收除了波长特征之外，还有时间、空间分布特征。分子吸收通常先于原子吸收信号之前产生，当有快速响应电路和记录装置时，可以从时间上分辨分子吸收和原子吸收信号。样品蒸气在石墨炉内分布的不均匀性，导致了背景吸收空间分布的不均匀性。

    提高温度使单位时间内蒸发出的背景物的浓度增加，同时也使分子解离增加。这两个因素共同制约着背景吸收。在恒温炉中，提高温度和升温速率，使分子吸收明显下降。在石墨炉原子吸收法中，背景吸收的影响比火焰原子吸收法严重，若不扣除背景，有时根本无法进行测定。